Libro de texto de ELECTRONICA DIGITAL 

por  Tomás Pollán Santamaría
  Profesor de Tecnología Electrónica de la Universidad de Zaragoza

Prensas Universitarias de Zaragoza, 2007

  Colección Textos Docentes

Volumen I I I. Microelectrónica

Índice:

21        MICROELECTRÓNICA:
   
         CIRCUITOS INTEGRADOS ESPECIFICADOS POR EL USUARIO           texto del capítulo 21
            21.1. Circuitos integrados programados por el usuario: tipos            
           
21.2. Circuitos integrados diseñados por el usuario: tipos 
   
         21.3. Herramientas de diseño      
           
21.4.
Validación de circuitos integrados: simulación, análisis de tiempos y test 25

22          CIRCUITOS INTEGRADOS PROGRAMABLES                         texto del capítulo 22
    MATRICES DE CELDAS CONFIGURABLES
 
    22.1. Resumen de la configuración y características de los CPLDs           
    22.2. Los biestables como componentes programables: SRAM 
   
22.3. Matrices de celdas programables: FPGAs 43

23         LENGUAJE DE DESCRIPCIÓN CIRCUITAL: V H D L               texto del capítulo 23
    23.1. VHDL como lenguaje para describir, simular, validar y diseñar 
   
23.2. VHDL básico para diseñar circuitos combinacionales 
   
23.3. Descripción de circuitos secuenciales y de sistemas síncronos        
   
23.4. Descripción de grafos de estado 
   
23.5. Otros recursos de VHDL

24         APROXIMACIÓN ESTRUCTURAL AL DISEÑO                         texto del capítulo 24
   
DE SISTEMAS COMPLEJOS       
   
24.1. Hacer manejable la complejidad  
    24.2. Sistemas con mucha transferencia de información 
   
24.3. Sistemas con esquema de cálculo complejo  
    24.4. Máquinas algorítmicas: varios ejemplos      
   
24.5. Dividir en partes los tiempos de retraso : segmentación              

25               TEST DE CIRCUITOS INTEGRADOS                                           texto del capítulo 25 
    25.1.  El test como última etapa del proceso de fabricación  
    25.2.  Modelo de fallos para el test            
    25.3.    Análisis de fallos y simulación de fallo
    25.4.   
Test de circuitos secuenciales
    25.5.    Test de placas y de sistemas completos 
    25.6.  Test interno

ASPECTOS TECNOLÓGICOS

T6        MODELO FUNCIONAL DEL TRANSISTOR MOS           texto del capítulo T6
   
           T6.1. Funcionamiento del transistor NMOS     
          
    T6.2. Etapa en fuente común 
   
           T6.3. El transistor MOS real: efectos de segundo orden  
              T6.4.
Modelos SPICE         

T7         ESTUDIO EN DETALLE DEL INVERSOR CMOS            texto del capítulo T7
              T7.1. El inversor CMOS            

              T7.2. Tiempo de propagación y mejora del mismo                                    
nueva versión del texto del capítulo T7
   
           T7.3. Disipación de potencia  T7.4. Puertas CMOS            

T8        PUERTAS SEUDONMOS
            Y PUERTAS DE TRANSMISIÓN   
                                        texto del capítulo T8
            T8.1. Puertas seudoNMOS     
   
          T8.2. Transistor de paso y puertas de transmisión                                     nueva versión del texto del capítulo T8
         
    T8.3. Lógica dinámica                 

T9         EL CIRCUITO INTEGRADO COMPLETO:                     texto del capítulo T9  
   
         CUESTIONES DIVERSAS   
   
          T9.1. Terminales del circuito integrado: entradas y salidas        
   
          T9.2. Densidad de integración  
   
          T9.3. Consideraciones respecto al diseño físico: reglas de diseño                 

Apéndices 

A6  Apéndice al capítulo 23                                                                           texto del apéndice 6

       Ejemplos de diseño V H D L

 

A7  Apéndice al capítulo T9                                                                          texto del apéndice 7

       Circuitos integrados mixtos     

 

A8  Apéndice a los capítulos T6, T7, T8 y T9                                            texto del apéndice 8

       Simuladores eléctricos: S P I C E